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nanofilm_ep3sw

Imaging single wave ellipsometer nanofilm_ep3swEl siguiente paso hacía la Elipsometría de imagen con el nanoilm_ep3sw.

El nanofilm_ep3sw de longitud de onda simple es un poderoso sistema para iniciar con la elipsoemtría de imagen.

¡La captura de imágenes le permite tener una visualización directa de su muestra!

Con la cámara CCD incorporada usted tendrá una imagen directa de su muestra.

Esta imagen exhibe un contraste elipsométrico que le permite analizar cualitativamente la homogeneidad de su muestra o decidir si las estructuras superficiales son como deberían ser.
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Para una mejor idea del nanofilm_ep3sw, por favor haga clic en la imagen para ver un video corto con algunas descripciones generales.

Medidas bien definidas

Debido a que se obtiene una imagen directa de la muestra, es posible hacer medidas puntuales sobre regiones de interés bien definidas. Incluso con muestras que normalmente no requieren un registro de imágenes, usted estaría seguro de estar midiendo una región homogénea usando un Elipsómetro de imagen.

Alta resolución lateral

La elipsometría de imagen ofrece una resolución lateral (espacial) inferior a 1 micrómetro (nanofilm_ep3sw). Los Elipsómetros estándar tienen una resolución lateral típica de 100 – 500 micrómetros. Por esta razón, nuestro sistema es adecuado para medir superficies estructuradas, pequeñas superficies o para verificar estructuras no homogéneas, etc. Desde luego, los Elipsómetros de imagen proveen excelente precisión en la dirección Z (espesor) con una resolución mejor a 0.1nm.

Obtención de medidas en muy corto tiempo

Con el software nanofilm_ep3view el nanofilm_ep3sw está disponible para medir mapas cuantitativos de espesor (también mapas de índice de refracción , etc.) para el campo de vista completo de una forma muy rápida.

Estas fotografías son similares a las fotografías AFM (Atomic Force Microscopy) sin necesidad de hacer un escaneo de la muestra. Este procedimiento toma menos de 1 minuto. Con el Elipsómetro de imagen nanofilm_ep3 usted tiene en sus manos una poderosa y rápida tecnología para medir láminas delgadas microestructuradas y/o no homogéneas con la más alta resolución lateral. De este modo, con el Elipsómetro de toma de imágenes EP³ usted podrá estar seguro de que está obteniendo datos realmente relevantes.

Nanofilm lo invita a someter una muestra a una evaluación gratis.

Todo lo que usted tiene que hacer es descargar el formato de presentación, diligenciarlo completamente y enviarlo junto con su muestra a alguna de nuestras oficinas.

Características Claves – El nanofilm_ep3sw está completamente equipado, listo para su uso:

  • Láser 532nm (estándar, actualizable)
  • Gionometro automático
  • Marco de manejo de muestras manual
  • Armazón abierto
  • PC y monitor
nanofilm_ep3sw:Single Wavelength Imaging Ellipsometer
nanofilm_ep3se:Spectroscopic Imaging Ellipsometer
Technical integration – AFM:Technical Integration of a Scanning Probe Microscope
Technical integration THz TDS:Technical Integration of a Terahertz Time-Domain
Application package Imaging ellipsometry at the air/water interface:Imaging Ellipsometry at the solid/liquid interface
application package SPR:Imaging SPR in the ellipsometric mode